• 日本得乐SM-1201测厚规

    日本得乐SM-1201测厚规 日本得乐SM-1201精密型测厚表千分表厚度计 产品测量时要:手持表盘式测厚表将测量物夹在测量头和测量钻之间进行。按下升降杆测量头则上升,松开即返回到0点。和百分尺等测量器相比有操作简单,测量时间短的特性。 指针和数字式均有分度值为:0.001mm。 行程式0.001-10mm。

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  • 日本得乐SM-114测厚规-厚薄表

    日本得乐SM-114测厚规-厚薄表 日本得乐TECLOCK测厚规--厚薄表SM-114标准型 品牌:TECLOCK(日本得乐) 简介: 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量,加长型测臂具有更大的测量深度。 原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。

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  • 日本得乐测厚规

    SM-112日本得乐测厚规 品牌:日本得乐 型号:SM-112 测量范围:0-10mm Z小读数:0.01mm 测量深度:26mm SM-112技术参数: 指式方式:指针式 测量范围:0-10mm Z小读数:0.01mm 测量深度:26mm 体积大小:(W*D*H)87*23*10

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  • 指针式纸张测厚规

    指针式纸张测厚规 纸张测厚规-面料厚度规-薄膜测厚仪 适用行业:纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。 原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。 指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。 纸张测厚规-面料厚度规-薄膜测厚仪技术参数: 原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。

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  • 超声波测厚仪

    YQ-900超声波测厚仪原理:根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度

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  • 日本得乐SM-114测厚规

    日本得乐SM-114测厚规 测厚表将测量物夹在测量头和测量钻之间进行。按下升降杆测量头则上升,松开即返回到0点。和百分尺等测量器相比有操作简单,测量时间短的特性。指针和数字式均有分度值为:0.01mm和0.001mm两种产品。行程式能根据测量部的大小,Z厚可测量到50mm。另外,还广泛应用于皮革纸,头发,橡胶板,金属管,塑料薄

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  • 日本得乐SM-112厚度表

    日本得乐SM-112厚度表 测厚表将测量物夹在测量头和测量钻之间进行。按下升降杆测量头则上升,松开即返回到0点。和百分尺等测量器相比有操作简单,测量时间短的特性。指针和数字式均有分度值为:0.01mm和0.001mm两种产品。行程式能根据测量部的大小,Z厚可测量到50mm。另外,还广泛应用于皮革纸,头发,橡胶板,金属管,塑料薄

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  • 日本得乐SM系列测厚规,测厚表

    日本得乐SM系列测厚规,测厚表 测厚表将测量物夹在测量头和测量钻之间进行。按下升降杆测量头则上升,松开即返回到0点。和百分尺等测量器相比有操作简单,测量时间短的特性。指针和数字式均有分度值为:0.01mm和0.001mm两种产品。行程式能根据测量部的大小,Z厚可测量到50mm。另外,还广泛应用于皮革纸,头发,橡胶板,金属管,塑料薄

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  • 纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量计(测厚规)

    纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量计(测厚规) 适用行业:纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。 原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。 指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。 技术参数: 测量范围(mm)0-10 分度值(mm)0.01 示值误差(mm)±0.01 深度2.3CM

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  • YQ-620涂层测厚仪

    YQ-620涂层测厚仪双功能技术的测厚仪,完成磁感应和电涡流测量自动转换应用双功能测量技术,能够自动识别磁性或非磁性底材,然后采用相应的测试方法,适用于各种测量环境。可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。

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